Eine Frage, die oft gestellt wird, ist die nach der Lebensdauer von elektronischen Bauteilen, Baugruppen oder Systemen. Gerade in kritischen Bereichen, in denen ein Ausfall fatale wirtschaftliche Folgen haben könnte, ist eine möglichst genaue Vorhersage der Lebensdauer wichtig. So werden in künstlichen Umgebungen die Bauteile beschleunigt gealtert, um den Grund des Ausfalles herauszufinden. Dabei werden sie vorher fest definierten Kennwerten (z.B. Temperaturschwankungen) ausgesetzt, die im realen Einsatz auch auftreten können. Um diese Kennwerte herauszufinden, ist es notwendig, eine langfristige Überwachung der elektronischen Bauteile (z.B. die Temperaturabnahme an noralgischen Punkten) vorzunehmen. Nur so können sie, beziehungsweise die verbesserten Nachfolger und Prototypen, im Labor simulierten Werten ausgesetzt werden, welche die realen widerspiegeln.