Zur Abfrage der Daten von der Messkarte und deren Steuerung wird das HewlettPackard-Visual Engineering Environment (HP-VEE) [3] eingesetzt. Dieses Programm ist speziell zur Erstellung von Software für Test- und Messanwendungen entwickelt worden. Es kann die Entwicklungszeiten einer Softwareentwicklung in diesem Bereich um 25-80% verkürzen [4].